一、产品定位
类型：PXI单槽开关模块，支持32通道单刀双掷（SPDT）切换。
应用场景：
自动化测试设备（ATE）中的信号路由。
数据采集系统（DAQ）的多通道信号切换。
传感器测试与校准。
射频（RF）信号切换（需选配高频型号）。
半导体器件测试（如晶圆探针台信号路由）。
二、核心功能与特性
高密度通道设计
32通道SPDT开关：每个通道可独立切换至两个位置（A/B），实现信号路由或隔离。
单槽模块：节省PXI机箱空间，支持高密度集成。
灵活的信号切换
信号类型：兼容模拟、数字和低频射频信号（具体频率范围依型号而定）。
切换模式：支持通电切换（Make-Before-Break）或断电切换（Break-Before-Make，需软件配置）。
高性能电气参数
带宽：
标准型号：支持DC至100 MHz（典型值）。
高频型号（如PXI-2501 HF）：支持DC至3 GHz（需确认具体型号）。
插入损耗：<0.5 dB（ 1 GHz，高频型号）。
隔离度：>80 dB（ 1 GHz，高频型号），减少信号串扰。
耐压能力：支持±150 V DC（最大电压，依型号而定）。
可靠性与寿命
切换寿命：>100万次（典型值），确保长期稳定运行。
过压保护：内置保护电路，防止电压浪涌损坏模块。
触发与同步
软件触发：通过PXI总线或API控制切换时序。
硬件触发：支持外部TTL触发信号，实现多模块同步操作。
三、技术规格
参数详情
通道数32通道单刀双掷（SPDT）
信号类型模拟、数字、低频射频（依型号支持高频）
带宽标准：DC-100 MHz；高频型号：DC-3 GHz（需确认）
插入损耗<0.5 dB（ 1 GHz，高频型号）
隔离度>80 dB（ 1 GHz，高频型号）
最大电压±150 V DC（依型号而定）
最大电流1 A（每通道）
切换寿命>100万次（典型值）
触发方式软件触发（PXI总线）、硬件触发（TTL）
连接器类型高密度SMB或SMA（高频型号）
尺寸PXI单槽模块（3U高度）
功耗<15 W（典型值）
工作环境温度0°C至55°C
四、软件支持
驱动与API
NI-SWITCH驱动：提供LabVIEW、C/C++、.NET等语言的API，简化编程。
NI-DAQmx兼容性：支持与数据采集卡无缝集成。
测试开发环境
LabVIEW：通过图形化编程快速构建测试序列。
TestStand：管理测试流程，支持多模块并行测试。
Switch Executive：图形化配置开关拓扑，优化信号路由路径。
半导体测试软件
NI Semiconductor Test System(STS)：针对晶圆测试和封装测试优化的解决方案。
五、典型应用场景
自动化测试设备（ATE）
切换多个测试仪器（如源表、频谱分析仪）与被测器件（DUT）的连接。
实现测试资源的共享，降低系统成本。
数据采集系统（DAQ）
路由多路传感器信号至数据采集卡，支持高通道数监测。
