1.Product Overview
Model:NI PXI-2527
Type:PXI matrix switch module
Application scenarios:automated testing,data acquisition,signal routing,multi-channel measurement,etc.,suitable for aerospace,automotive electronics,communications,semiconductor testing and other fields.
2.Core features
High-density matrix design
Provides 32×8 or 16×16 matrix configuration(depending on the model variant),supports up to 256 crosspoints,and meets complex test requirements.
Supports multiplexing,can connect multiple input/output channels at the same time,and improves test efficiency.
High-speed signal switching
The switching speed is extremely fast(typical value<1ms),suitable for high-frequency signal testing(such as RF,high-speed digital signals).
Low insertion loss and low crosstalk ensure signal integrity.
PXI standardization and compatibility
Compliant with PXI standards,can be directly inserted into PXI/PXIe chassis,and seamlessly integrated with NI’s LabVIEW,TestStand and other software.
Supports remote control and automated test processes.
High reliability
Adopt electromagnetic relay(EMR)technology,long life(typically>10⁹operations),suitable for long-term stable operation.
Overvoltage protection and electrostatic discharge(ESD)protection to ensure equipment safety.
Flexible configuration
Support single-pole single-throw(SPST)or single-pole double-throw(SPDT)switching mode to adapt to different test requirements.
Matrix topology can be configured through software without hardware modification.
3.Technical Specifications
Parameter Details
Matrix Configuration 32×8 or 16×16(depending on the specific model)
Number of Channels Up to 256 crosspoints
Signal Type Analog/Digital Signal(supports DC to high frequency)
Maximum Voltage Typically 250 V(see manual for details)
Maximum Current 1 A(continuous)
Switching Life>10⁹Operations
Connector Type Universal Connector(such as SMB,DIN,etc.)
Dimensions Standard PXI Module Dimensions(3U)
Software Support LabVIEW,LabWindows/CVI,TestStand,etc.
4.Typical Applications
Multi-channel Data Acquisition:Connect multiple sensors or signal sources to the data acquisition card at the same time.
Automated Test Equipment(ATE):Quickly switch test signal paths to reduce test time.
RF Test:Route high-frequency signals to spectrum analyzers or network analyzers.
Semiconductor Test:Parallel test of multi-pin devices to increase throughput.
Functional Test:Simulate different signal paths to verify device performance.
一、产品概述
型号：NI PXI-2527
类型：PXI矩阵开关模块
应用场景：自动化测试、数据采集、信号路由、多通道测量等，适用于航空航天、汽车电子、通信、半导体测试等领域。
二、核心特性
高密度矩阵设计
提供32×8或16×16的矩阵配置（具体取决于型号变体），支持多达256个交叉点，满足复杂测试需求。
支持多路复用，可同时连接多个输入/输出通道，提高测试效率。
高速信号切换
切换速度极快（典型值<1ms），适用于高频信号测试（如射频、高速数字信号）。
低插入损耗和低串扰，确保信号完整性。
PXI标准化兼容
符合PXI标准，可直接插入PXI/PXIe机箱，与NI的LabVIEW、TestStand等软件无缝集成。
支持远程控制和自动化测试流程。
高可靠性
采用电磁继电器（EMR）技术，寿命长（通常>10⁹次操作），适合长期稳定运行。
过压保护和静电放电（ESD）防护，保障设备安全。
灵活配置
支持单刀单掷（SPST）或单刀双掷（SPDT）切换模式，适应不同测试需求。
可通过软件配置矩阵拓扑，无需硬件修改。
三、技术规格
参数详情
矩阵配置32×8或16×16（具体型号而定）
通道数最多256个交叉点
信号类型模拟/数字信号（支持DC至高频）
最大电压通常为250 V（具体见手册）
最大电流1 A（连续）
切换寿命>10⁹次操作
连接器类型通用连接器（如SMB、DIN等）
尺寸标准PXI模块尺寸（3U）
软件支持LabVIEW、LabWindows/CVI、TestStand等
四、典型应用
多通道数据采集：同时连接多个传感器或信号源到数据采集卡。
自动化测试设备（ATE）：快速切换测试信号路径，减少测试时间。
射频测试：路由高频信号到频谱分析仪或网络分析仪。
半导体测试：多引脚器件的并行测试，提高吞吐量。
功能测试：模拟不同信号路径以验证设备性能。
