一、核心特性
高速数字I/O通道
32路双向数字通道：支持独立配置为输入或输出，通道间隔离设计，减少串扰。
最高时钟速率：100 MHz，支持高速数据传输与精确时序控制。
可编程方向：每通道可单独设置为输入或输出，灵活适应不同测试需求。
高精度时序控制
亚纳秒级时序分辨率：时序分辨率达10 ns，支持精确的信号延迟与触发同步。
动态时序调整：可通过软件实时调整信号边沿时间、脉冲宽度等参数。
高级模式支持
模式生成（Pattern Generation）：内置硬件模式生成器，支持长时间、无抖动的数字序列输出（如SPI/I2C协议模拟）。
模式捕获（Pattern Capture）：可捕获高速数字信号，支持错误检测与协议分析。
握手协议支持：兼容RTS/CTS、XON/XOFF等流控协议，确保数据可靠传输。
PXI系统集成
符合PXI标准，可与其他PXI模块（如示波器、信号发生器）同步工作，构建多设备测试系统。
支持PXI触发总线，实现纳秒级同步精度（<10 ns），适用于多模块协同测试。
二、技术规格
参数规格
通道数32路双向数字I/O（可独立配置为输入/输出）
时钟速率最高100 MHz（外部时钟支持up to 200 MHz）
电压电平TTL/LVTTL兼容：
-输入：0 V至5 V（兼容3.3 V CMOS）
-输出：0 V至3.3 V（可调驱动强度）
时序分辨率10 ns（可编程调整信号边沿时间）
输入特性输入阻抗：>100 kΩ（典型值）
输入阈值：TTL标准（1.4 V低电平，2.0 V高电平）
输出特性输出驱动能力：±24 mA（sink/source）
输出上升/下降时间：<5 ns（典型值）
保护功能过压保护：±30 V（输入）
过流保护：±50 mA（每通道）
触发方式软件触发、硬件触发（PXI触发总线）、外部TTL触发
三、应用场景
半导体测试
用于数字IC（如MCU、FPGA）的引脚级测试，支持高速扫描链（Scan Chain）与边界扫描（JTAG）。
模拟SPI/I2C/UART等数字协议，验证芯片通信功能。
自动化测试设备（ATE）
构建多通道数字测试系统，支持并行测试（如PCB板级功能测试）。
与PXI开关矩阵配合，实现自动通道切换，提升测试效率。
硬件验证与调试
捕获高速数字信号（如DDR内存总线），分析时序违规（Timing Violations）。
生成复杂激励信号，验证数字电路的响应（如状态机、中断处理）。
生产测试与质量控制
对消费电子产品（如智能手机、智能手表）进行数字接口测试（如USB、MIPI）。
支持大批量测试脚本，兼容NI TestStand等自动化测试管理软件。
四、软件支持
NI-DAQmx驱动：提供LabVIEW、LabWindows/CVI、C/C++/Python等编程接口，简化开发流程。
NI Digital Pattern Editor：图形化工具，用于编辑、调试数字测试模式（支持Shmoo图分析）。
NI TestStand：集成至自动化测试管理软件，实现多步骤测试流程与报告生成。
NI FlexDMM：与PXI数字万用表配合，实现混合信号测试（数字+模拟）。
