一、核心特性
高速数字I/O通道
32路双向数字通道：每通道可独立配置为输入或输出，支持TTL/LVTTL电平（0 V至3.3 V/5 V兼容）。
最高时钟速率：200 MHz（外部时钟支持），支持超高速数据传输与精确时序控制。
动态重配置：可在运行时动态切换通道方向（输入/输出），适应动态测试需求。
亚纳秒级时序控制
时序分辨率：2.5 ns（可编程调整信号边沿时间、脉冲宽度），实现纳秒级同步精度。
硬件时序引擎：内置专用时序生成器，支持独立控制每通道的延迟、相位和触发关系。
高级模式生成与捕获
深存储器：每通道配备128 Msample深度，支持长时间、无抖动的数字序列输出与捕获。
协议模拟：支持SPI、I2C、UART、CAN、LIN等数字协议的硬件级模拟，无需额外编程。
错误检测：实时监测数字信号质量（如建立/保持时间违规、毛刺检测）。
PXI系统集成
符合PXI标准，可与其他PXI模块（如示波器、信号发生器）同步工作，构建多设备测试系统。
支持PXI触发总线和星形触发，实现多模块纳秒级同步（<5 ns抖动）。
二、技术规格
参数规格
通道数32路双向数字I/O（可独立配置为输入/输出）
时钟速率内部时钟：200 MHz（最大）
外部时钟：支持up to 400 MHz（需外部源）
电压电平输入：0 V至5 V（兼容3.3 V CMOS，阈值可调）
输出：0 V至3.3 V（驱动强度可调）
时序分辨率2.5 ns（可编程调整信号边沿时间）
输入特性输入阻抗：>100 kΩ（典型值）
输入阈值：TTL标准（1.4 V低电平，2.0 V高电平）
输入延迟：<5 ns（典型值）
输出特性输出驱动能力：±24 mA（sink/source）
输出上升/下降时间：<1.5 ns（典型值）
输出过冲：<10%Vpp
存储器深度每通道128 Msample（支持循环缓冲模式）
保护功能过压保护：±30 V（输入）
过流保护：±50 mA（每通道）
ESD保护：±15 kV（人体模型）
触发方式软件触发、硬件触发（PXI触发总线）、外部TTL触发、星形触发
三、应用场景
半导体测试
数字IC测试：用于MCU、FPGA、ASIC的引脚级测试，支持高速扫描链（Scan Chain）与边界扫描（JTAG）。
存储器测试：模拟DDR/LPDDR总线时序，验证内存芯片的读写时序与数据完整性。
协议验证：硬件级模拟SPI、I2C、UART、MIPI等数字协议，测试芯片通信功能。
高速数据采集与生成
信号捕获：记录高速数字信号（如PCIe、USB 3.0总线），分析时序违规与信号完整性。
模式生成：生成复杂激励信号（如视频像素流、音频数据），验证数字电路的响应。
