ASML 4022.436.72642

1.技术架构与创新

机械臂结构:

碳纤维复合材料:重量减轻40%,惯性矩<0.1 kg·m²。

冗余驱动系统:6自由度(X/Y/Z/θx/θy/θz)协同控制,动态响应时间<5ms。

传感与控制:

光纤激光干涉仪:分辨率≤0.1pm,抗环境振动干扰比≥60dB。

AI驱动补偿:基于机器学习的热形变预测模型,补偿精度≥99.5%。

2.工艺适配性

EUV光刻应用:

多工件台协同:支持双晶圆台交替传输,减少曝光等待时间25%。

洁净室集成:模块化设计,单次维护耗时<6小时。

特殊环境适配:

辐射耐受:可承受EUV光子流密度≥10¹⁴photons/cm²·s,表面损伤阈值>10¹⁶photons/cm²。

低温环境:在-20℃~80℃温度范围内保持定位精度。

3.行业应用案例

台积电3nm工艺:2023年导入后,晶圆产能提升20%,良率波动幅度从±2%降至±0.8%。

三星GAA晶体管制造:2024年用于逻辑芯片生产,关键层对准误差从±1.2μm降至±0.6μm。

英特尔封装技术:2025年集成后,TSV通孔良率提升18%。

技术规格:ASML 4022.436.72642

分类: 品牌:

描述

产品简要说明

ASML 4022.436.72642是ASML极紫外(EUV)光刻机的核心晶圆传输组件,专为3nm及以下先进制程设计。其核心功能包括:

亚微米级定位精度:晶圆对准误差≤0.5μm(RMS),表面颗粒污染≤0.1μm(Class 1标准)。

超高速传输:单晶圆处理周期<8秒,产能提升30%。

真空兼容性:在1×10⁻⁶Pa真空环境下稳定运行,无油润滑设计。

产品详细说明

1.技术架构与创新

机械臂结构:

碳纤维复合材料:重量减轻40%,惯性矩<0.1 kg·m²。

冗余驱动系统:6自由度(X/Y/Z/θx/θy/θz)协同控制,动态响应时间<5ms。

传感与控制:

光纤激光干涉仪:分辨率≤0.1pm,抗环境振动干扰比≥60dB。

AI驱动补偿:基于机器学习的热形变预测模型,补偿精度≥99.5%。

2.工艺适配性

EUV光刻应用:

多工件台协同:支持双晶圆台交替传输,减少曝光等待时间25%。

洁净室集成:模块化设计,单次维护耗时<6小时。

特殊环境适配:

辐射耐受:可承受EUV光子流密度≥10¹⁴photons/cm²·s,表面损伤阈值>10¹⁶photons/cm²。

低温环境:在-20℃~80℃温度范围内保持定位精度。

3.行业应用案例

台积电3nm工艺:2023年导入后,晶圆产能提升20%,良率波动幅度从±2%降至±0.8%。

三星GAA晶体管制造:2024年用于逻辑芯片生产,关键层对准误差从±1.2μm降至±0.6μm。

英特尔封装技术:2025年集成后,TSV通孔良率提升18%。

技术规格:ASML 4022.436.72642

参数项规格描述

运动范围X/Y轴±200mm,Z轴±50mm

定位精度≤0.5μm(RMS)

传输速度水平移动≥600mm/s,垂直移动≥150mm/s

负载能力单晶圆承载≥100kg(含防护罩)

Product brief description

ASML 4022.436.72642 is the core wafer transmission component of ASML extreme ultraviolet(EUV)lithography machine,designed for advanced processes under 3nm and below.Its core functions include:

Submicron-level positioning accuracy:wafer alignment error≤0.5μm(RMS),surface particle contamination≤0.1μm(Class 1 standard).

Ultra-high speed transmission:single wafer processing cycle<8 seconds,production capacity increased by 30%.

Vacuum compatibility:Stable operation in 1×10⁻⁶Pa vacuum environment,oil-free lubricating design.

Product details

1.Technical Architecture and Innovation

Mechanical arm structure:

Carbon fiber composite material:40%weight reduction,moment of inertia<0.1 kg·m².

Redundant drive system:6 degrees of freedom(X/Y/Z/θx/θy/θz)coordinated control,dynamic response time<5ms.

Sensing and control:

Fiber laser interferometer:resolution≤0.1pm,anti-environmental vibration interference ratio≥60dB.

AI-driven compensation:a thermal deformation prediction model based on machine learning,with compensation accuracy of≥99.5%.

2.Process adaptability

EUV lithography applications:

Multi-workpiece platform collaboration:supports alternating transmission of dual wafer platforms,reducing exposure waiting time by 25%.

Clean room integration:modular design,single maintenance takes<6 hours.

Special environment adaptation:

Radiation tolerance:Can withstand EUV photon flow density≥10¹⁴photos/cm²·s,surface damage threshold>10¹⁶photos/cm².

Low temperature environment:maintain positioning accuracy within the temperature range of-20℃~80℃.

3.Industry application cases

TSMC’s 3nm process:After the introduction in 2023,the wafer production capacity will increase by 20%,and the yield fluctuation range will drop from±2%to±0.8%.

Samsung GAA transistor manufacturing:used for logic chip production in 2024,with the critical layer alignment error dropping from±1.2μm to±0.6μm.

Intel Packaging Technology:After integration in 2025,the yield of TSV through-holes will increase by 18%.

Technical specifications:ASML 4022.436.72642

Parameters Specification Description

Range of motion:X/Y axis±200mm,Z axis±50mm

Positioning accuracy≤0.5μm(RMS)

Transmission speed:Horizontal movement≥600mm/s,vertical movement≥150mm/s

Load capacity Single wafer bearing≥100kg(including protective cover)