ASML PASS 25005000 280854845

动态补偿技术:通过压电陶瓷驱动实现纳米级振动抑制。

多模态光源集成:

i线光源:波长365nm,支持0.7μm分辨率。

KrF光源:波长248nm,支持0.35μm分辨率。

模块化设计:

可扩展架构:通过独立模块(如扫描仪、步进仪、检测单元)实现功能叠加。

快速迭代能力:单台设备可适配不同工艺需求,降低产线改造成本。

2.工艺适配性

逻辑芯片制造:

关键层处理:支持0.5μm至0.35μm制程,套准精度≤100nm。

多层对准:采用双频激光干涉仪实现层间对准误差≤50nm。

存储器生产:

动态随机存取存储器(DRAM):支持64Mbit至256Mbit芯片量产。

非易失性存储器(NVM):兼容浮栅结构刻蚀工艺。

分类: 品牌:

描述

产品简要说明

ASML PASS 25005000 280854845是ASML早期推出的模块化光刻系统,专为20世纪80年代至90年代的半导体制造设计。其核心功能包括:

电动晶圆台控制:支持4-12英寸晶圆处理,套准精度≤12nm(最新型号)。

多光源适配:兼容i线(365nm)、KrF(248nm)及ArF(193nm)准分子激光器。

模块化扩展:可根据工艺需求灵活选配扫描式/步进式光刻模块。

产品详细说明

1.技术架构与创新

电动化驱动系统:

晶圆台定位精度:±0.1μm(扫描模式),±0.05μm(步进模式)。

动态补偿技术:通过压电陶瓷驱动实现纳米级振动抑制。

多模态光源集成:

i线光源:波长365nm,支持0.7μm分辨率。

KrF光源:波长248nm,支持0.35μm分辨率。

模块化设计:

可扩展架构:通过独立模块(如扫描仪、步进仪、检测单元)实现功能叠加。

快速迭代能力:单台设备可适配不同工艺需求,降低产线改造成本。

2.工艺适配性

逻辑芯片制造:

关键层处理:支持0.5μm至0.35μm制程,套准精度≤100nm。

多层对准:采用双频激光干涉仪实现层间对准误差≤50nm。

存储器生产:

动态随机存取存储器(DRAM):支持64Mbit至256Mbit芯片量产。

非易失性存储器(NVM):兼容浮栅结构刻蚀工艺。

Product brief description

ASML PASS 25005000 280854845 is a modular lithography system launched by ASML in the early days,designed for semiconductor manufacturing from the 1980s to 1990s.Its core functions include:

Electric wafer table control:supports 4-12-inch wafer processing,registration accuracy≤12nm(latest model).

Multi-light source adaptation:compatible with i-line(365nm),KrF(248nm)and ArF(193nm)excimer lasers.

Modular expansion:Scanning/step lithography modules can be flexibly selected according to process requirements.

Product details

1.Technical Architecture and Innovation

Electrostatic drive system:

Wafer positioning accuracy:±0.1μm(scan mode),±0.05μm(step mode).

Dynamic compensation technology:nanoscale vibration suppression is achieved through piezoelectric ceramic driving.

Multimodal light source integration:

i-line light source:wavelength 365nm,supports 0.7μm resolution.

KrF light source:wavelength 248nm,supports 0.35μm resolution.

Modular design:

Scalable architecture:Functional overlay is achieved through independent modules(such as scanners,steppers,detection units).

Rapid iteration capability:Single equipment can adapt to different process requirements,reducing production line transformation costs.

2.Process adaptability

Logic chip manufacturing:

Key layer processing:Supports 0.5μm to 0.35μm process,registration accuracy≤100nm.

Multi-layer alignment:A dual-frequency laser interferometer is used to achieve an interlayer alignment error of≤50nm.

Memory production:

Dynamic Random Access Memory(DRAM):Supports mass production of 64Mbit to 256Mbit chips.

Nonvolatile memory(NVM):compatible with floating gate structure etching process.